इलेक्ट्रॉन आणि ऑप्टिकल सूक्ष्मदर्शकांची अचूकता त्यांच्या प्रकार आणि डिझाइननुसार बदलते, जसे की:
इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपीची अचूकता
ट्रान्समिशन इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपी (TEM): सध्या, ट्रान्समिशन इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपीची रिझोल्यूशन अचूकता 0.2μm पेक्षा कमी संरचनांचे निराकरण करण्यास सक्षम आहे आणि ध्रुवीय मर्यादा रिझोल्यूशन 0.1nm पर्यंत पोहोचू शकते. उदाहरणार्थ, काही चांगल्या ट्रान्समिशन इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपमध्ये 1.5 ते 2A (1A = 0.1nm) रिझोल्यूशन असते, जे जवळजवळ सर्व अणूंचे निराकरण करू शकते.
स्कॅनिंग इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपी (SEM): सामान्यतः 1μm³ चे अवकाशीय रिझोल्यूशन साध्य केले जाते, जरी उपकरणाच्या प्रकारावर आणि पाहण्याच्या परिस्थितीनुसार अचूकता बदलू शकते.
प्रकाश सूक्ष्मदर्शकाची अचूकता
सामान्य ऑप्टिकल मायक्रोस्कोपी: त्याचे मर्यादा रिझोल्यूशन साधारणपणे सुमारे २५० नॅनोमीटर असते, जे मानवी डोळ्याच्या रिझोल्यूशनपेक्षा (०.२५ मिमी) १० लाख पट जास्त असते. तथापि, उच्च-परिशुद्धता लेन्स आणि ऑप्टिकल तंत्रांचा वापर करून ऑप्टिकल मायक्रोस्कोपीचे रिझोल्यूशन आणि मॅग्निफिकेशन लक्षणीयरीत्या सुधारता येते.
उच्च-परिशुद्धता ऑप्टिकल मायक्रोस्कोप: जसे की ऑप्टिकल डिजिटल मायक्रोस्कोप, त्याची रिझोल्यूशन अचूकता 0.1μm पर्यंत पोहोचू शकते, 5000 पट पर्यंत वाढवणे. याव्यतिरिक्त, त्रिमितीय ऑप्टिकल मायक्रोस्कोपी सारख्या पांढऱ्या प्रकाश हस्तक्षेपाच्या तत्त्वावर आधारित उच्च-परिशुद्धता विश्लेषणात्मक उपकरणे आहेत, जी सबनॅनोमीटर रिझोल्यूशनसह पृष्ठभाग स्थलाकृति मापन साध्य करू शकतात.
विशेष ऑप्टिकल मायक्रोस्कोपी: जसे की 2nm पोझिशनिंग अचूकतेसह ऑप्टिकल नॅनोस्कोपी, जसे की MINFLUX तंत्रज्ञान, जे नॅनोस्केल रिझोल्यूशन मायक्रोस्कोपीने अधिकृतपणे जीवन विज्ञान संशोधन क्षेत्रात प्रवेश केला आहे हे दर्शवते.
पोस्ट वेळ: नोव्हेंबर-०१-२०२५

